軍標(biāo)吹砂試驗箱用于檢測電子元器件、電子產(chǎn)品、線路板、控制器、開關(guān)等對飛散砂塵環(huán)境的適用能力。砂塵試驗一般包括吹砂試驗、吹塵試驗和降塵試驗三種。
軍標(biāo)吹砂試驗箱:外形參考
軍標(biāo)吹砂試驗箱:參數(shù)
項目II 吹砂 | 吹砂風(fēng)速 | 18m/s to 29m/s(可調(diào)節(jié)) |
風(fēng)速偏差 | ±2.0m/s | |
吹塵濃度 | 以下三種濃度,按測試件用于不同工作環(huán)境而定!
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溫度 | 室溫RT to 80℃ | |
濕度 | ≤30%R.H | |
試驗時間 | 每個易損面方向1.5小時,或自定義試驗時間 | |
砂塵要求 | 砂塵150~850μm(詳見GJB 150.12A中4.3.3.6.2要求) | |
控制系統(tǒng) |
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安全裝置 |
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:背景技術(shù)
砂塵試驗設(shè)備用于檢測電子元器件、電子產(chǎn)品、線路板、控制器、開關(guān)等對飛散砂塵環(huán)境的適用能力。砂塵試驗一般包括吹砂試驗、吹塵試驗和降塵試驗三種,現(xiàn)有的技術(shù)已實現(xiàn)同時進(jìn)行砂塵噴吹或降砂塵的電子產(chǎn)品檢測試驗,但是,目前的試驗設(shè)備大都是針對民用國標(biāo)制造的,并不能滿足軍標(biāo)的要求。而現(xiàn)有的軍標(biāo)降塵試驗中(即GJB150.12A-2009第12部分:砂塵試驗),是通過管道將砂塵直接吹到試驗箱內(nèi),然后依靠重力沉降進(jìn)行。因此降塵的均勻性很大程度與吹塵口的布局有關(guān),降塵的均勻性無法控制。且直接吹塵的工作方式無法準(zhǔn)確控制砂塵的投放量,試驗的精確程度較低,無法準(zhǔn)確模擬實際環(huán)境并進(jìn)行量化分析。因此,研發(fā)一種可保證降塵均勻度,可定量計量降塵的、對應(yīng)《GJB150.12A-2009第12部分:砂塵試驗》的程序III—降塵的軍標(biāo)降塵試驗箱,具有實用意義,可有效提高試驗效果,提供更值得參考的試驗數(shù)據(jù)用于配合產(chǎn)品研發(fā)。