供應(yīng)數(shù)量:826
發(fā)布日期:2024/6/28
有效日期:2024/12/27
原 產(chǎn) 地:
已獲點(diǎn)擊:826
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一、高低溫試驗(yàn)室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗(yàn)室 產(chǎn)品用途:
適用于對大批量、大尺寸的電工電子及其他產(chǎn)品、零部件、材料以及整車進(jìn)行高溫、低溫貯存試驗(yàn)、高低溫循環(huán)試驗(yàn)、環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性鑒定、驗(yàn)收試驗(yàn)、高低溫濕熱交變試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)等。模擬溫濕度變化條件下被試件對環(huán)境條件適應(yīng)性,并對其進(jìn)行質(zhì)量及可靠性測試。
二、設(shè)備安裝、測試使用環(huán)境要求:
三、高低溫試驗(yàn)室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗(yàn)室 試樣限制
四、高低溫試驗(yàn)室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗(yàn)室 技術(shù)參數(shù):
濕度:±0.1%RH
降溫約1.5℃/min;
±5.0%RH(濕度≤75%RH時(shí));
五、以下標(biāo)準(zhǔn)供參考:
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)
GJB150A.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-低溫試驗(yàn)
GJB4.3-83、GJB4.4-83 低溫試驗(yàn)
GB/T2423.2—2001高溫試驗(yàn)
GJB150A.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-高溫試驗(yàn)
GJB4.2-83 高溫試驗(yàn)
GB/T2423.22—2002溫度變化試驗(yàn)
GJB150A.5—86溫度變化試驗(yàn)
GB/T2423.3—2006 恒定濕熱試驗(yàn)
GJB4.5-83恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗(yàn)
GJB150A.9-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法-濕熱試驗(yàn)
GJB4.6-83 濕熱試驗(yàn)
溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn):GB2423.34—2012
GB10586濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T5170.1基本參數(shù)檢定方法 總則
GB/T5170.2基本參數(shù)檢定方法
GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備
基本參數(shù)檢定方法:GB5170.18 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范:JJF1101—2003
六、高低溫試驗(yàn)室 恒溫恒濕室 步入式環(huán)境試驗(yàn)室 結(jié)構(gòu)